冲击试验低温仪用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温及低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。
冲击试验低温仪技术参数：
内箱尺寸：W400mm*H500mm*D400mm
外箱尺寸：以实际尺寸为标准。
预热温度范围：+60℃～200℃；
升温时间： +60℃～200℃≤30min；
预冷温度范围： -75～-10℃；
降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚
温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚
温度波动度：±0.5℃
温度偏差：±2.0℃
温度恢复时间： ≤5分钟
主要控制器：日本/韩国/中国台湾(可选择）LED数显(P、I、D +S、S、R.)微电脑集成控制器
精度范围：设定精度：温度±0.2℃，指示精度：温度±0.1℃，分辨率：0.01℃
制冷系统：德国比泽尔半封闭水冷式压缩机组或法国“泰康”/全封闭风冷压缩制冷机组
循环系统：耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
