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PROBE 02H高频磁场探头(配合辐射分析仪) 辐射测量仪
产品: 浏览次数:635PROBE 02H高频磁场探头(配合辐射分析仪) 辐射测量仪 
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最后更新: 2023-03-23 12:59
 
详细信息
PROBE 02H高频磁场探头(配合辐射分析仪)

PROBE 02H高频磁场探头(配合辐射分析仪)


产品描述

概述

*微纳德Microrad高频磁场探头PROBE 02H,是一款三维磁场探头,对应三维(x&y&z)

空间的分量可单独地在探头输出,配合微纳德Microrad宽频电磁辐射分析仪主机

测量各向同性的磁场强度。

*高频磁场探头PROBE 02H频率测量范围为300kHz-30MHz,覆盖了工业和医疗科技

(ISM)行业的应用。

*微纳德宽频主机搭配高频磁场探头PROBE 02H能够实现对公共电磁环境控制限值

(GB 8702-2014)以及工作场所有害因素职业接触限值(GBZ 2.2-2007)的低频磁场进行

检测与分析。

典型应用

*工业炉、焊接

*回火和干燥设备

*透热设备和医疗设备(如NMR/MRI)

*敏感区域(比如学校,医院)

产品规格

频率范围

300 kHz – 30MHz

频率响应类型

平坦

测量范围

0.016 – 16 A/m

动态范围

>60 dB

传感器类型

电磁线圈

方向性

各向同性

频率响应的平坦度

±1.5 dB (0.5 MHz – 30 MHz)

线性度

±0.5 dB (0.016 – 16 A/m)

各项同性的响应

±0.5 dB ( @20 MHz )

频率校准

0.3-0.5-1-3-5-10-15-20-25-30 (MHz)

建议校准周期

24个月

工作温度

0°C – 50°C

尺寸

365 x 120 (mm)

重量

120g

产地

意大利


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